简介： 本发明提供一种测试AD性能的方法，其过程如下：1)两台矢量信号源、PC机、合路器和被测接收机；将两台矢量信号源的输出端与合路器的输入端相连，合路器的输出端与被测接收机相连，被测接收机与PC机相连。2)计算输入二阶互调截点值为IIP₂＝2P_in‑P_s(dBm)；3)计算三阶互调截点值为4)计算路间隔离度，其公式为：ACI＝P_w0‑P_wn(dBm)。本方法可以方便计算AD芯片采集模拟信号的二、三阶互调截点、路间隔离度；使得短波超短波等设备便于性能测试；具有结构简单、使用方便、测试数据准确等优点。