简介： 本发明涉及一种基于带电测试与有限元仿真的开关柜优化方法及该开关柜，该方法根据开关柜型号结构进行三维建模，获得了开关柜穿墙套管、母线室、触头盒电场的电场分布特征，并找出了电场集中点。在与现场局放测试对应研究分析后，找出局放异常原因，并提出改进措施。从运维到选型，形成开关柜的全生命周期管理。