简介： 一种LED降额曲线的测量装置,属于半导体光电器件的热学性能检测技术领域。本实用新型的待测LED、热电偶和夹具置于恒温烤箱内,待测LED和热电偶置于夹具上的同一位置。连接数字源表和待测LED,连接数字万用表和热电偶。分别将数字源表、数字万用表、夹具和恒温烤箱与计算机相连接。数字源表提供驱动待测LED的正向电流;恒温烤箱提供稳定的环境温度;热电偶用于探测待测LED附近的实际环境温度;数字万用表用于巡检热电偶的阻值大小;计算机负责收集、处理相关数据,并向用户输出图形化的降额曲线。同现有技术相比,本实用新型具有高效、准确、适用范围广泛的优点。