简介:
本实用新型公开一种四探针检测装置,包括:工作台;测试机架,测试机架设置在工作台上;伸缩液压缸,伸缩液压缸安装在测试机架上;辅助架,辅助架安装在伸缩液压缸的输出端,且辅助架上安装有测试头;测试盘,测试盘设置在测试机架的底座上,本实用新型解决了硅片的电学性能检测不方便的技术问题。
本实用新型公开一种四探针检测装置,包括:工作台;测试机架,测试机架设置在工作台上;伸缩液压缸,伸缩液压缸安装在测试机架上;辅助架,辅助架安装在伸缩液压缸的输出端,且辅助架上安装有测试头;测试盘,测试盘设置在测试机架的底座上,本实用新型解决了硅片的电学性能检测不方便的技术问题。