简介： 本实用新型涉及一种简易三极管特性测量系统。该系统包括第一微控制器、第二微控制器、电压采样电路、数控电源、数控频率源、频率测量电路和显示输出电路，所述第一微控制器与数控电源连接，所述数控电源与待测三极管连接，待测三极管通过电压采样电路再与第一微控制器连接，第一微控制器与所述显示输出电路连接；所述第二微控制器与数控频率源连接，所述数控频率源通过频率测量电路与待测三极管连接，所述频率测量电路通过第二微控制器与显示输出电路连接。本实用新型提供的三极管特性测量系统具有性能可靠、抗干扰能力强、功耗低、性价比高等优点，可应用于实验室、工厂对晶体三极管的质量性能检测。