简介： 本发明提供的一种半导体自动化检测装置，包括振动上料盘、出料轨道和底座，振动上料盘的出料端固定有出料轨道，振动上料盘靠近出料轨道的一侧设置有底座，底座上表面的中部对称固定有立杆，立杆的上端滑动连接有滑套，两个滑套的一侧固定有升降框，升降框远离滑套一侧的内壁对称固定有连接板，两个连接板的内侧等距设置有若干个检测压板，检测压板的一侧等距固定三个导电片；本发明在三极管检测时能够做到三极管不停歇的进行输送和检测，即三极管在输送的过程中即能够完成检测工作，相较于传统的三极管性能检测装置而言，不需要三极管间歇停止进行检测，从而极大的提高了检测的效率。