简介： 本发明公开LCM、TP一体测试机，将LCM测试机、TP测试机集成在一起，实施共地处理，以消除分开测试时LCM的零参考电势与TP的零参考电势存在差异引发的性能检测偏差问题，从而提高检测的正确性；LCM、TP测试可同步进行，可提高检测效率，还可由同一人进行，节省人力的投入，降低测试成本。