简介： 本发明涉及一种光学检测方法，具体涉及一种基于成像高光谱技术的多功能光学面板检测方法。设备包括发光面板、样品台、成像光谱仪和计算机，发光面板整体亮度是评价光学面板性能的关键指标，其异常点检测也有助于保障产品生产品控。通过采用成像高光谱技术对发光面板进行扫描，可以获得空间位置的每个点的发光亮度和整体的精确亮度。本发明可实现任意尺寸发光面板的整体或局部位置的精确亮度测量，有助于实现在线快速发光面板性能检测及故障评估。