简介： 本发明公开了一种集成电路测试设备，属于集成电路测试技术领域，一种集成电路测试设备，包括测试主机，测试主机通过PCI总线与计算机连接，测试主机通过继电器矩阵与集成电路连接，测试主机上设有多个测试分机，本发明提供了一种集便携式测试和台式测试技术于一体的并具有高精准度的集成电路测试设备，本发明以测试分机作为主要测试设备，可随时进行便携式测试，测试主机作为多个测试分机的连接辅助载体，可使多个测试分机同时对同一集成电路进行同步测试，集中分析多个测试结果以减小测试误差，并且，通过测试主机对多个测试分机的信号数据进行采集及统一校准，分析测试分机的测试性能，检测出并提高测试分机的测试精确度。