简介： 本发明公开了一种基于VHDL‑AMS退化模型的板级电路寿命预测方法，先分析元器件的失效模式和失效机理，建立元器件的数学退化模型，再利用matlab工具对数学退化模型进行拟合，得到最优的退化轨迹从而建立元器件的VHDL‑AMS模型，最后通过对VHDL‑AMS模型进行仿真，实现了元器件退化的板级电路性能检测及寿命预测。