简介： 本发明提供一种温度选择器检测方法，首先进行电阻测量，经过桥路转换成电压信号，再经运放电路将电压信号放大，最后经V/F变换电路，将电压信号转换成频率信号进入单片机T0或T1口采集；然后单片机不间断地实时采集1号和2号插针输出的电阻值，自动判断档位。本发明公开一种温度选择器检测方法，采用电阻测量电路及自动判档方法，能准确、合理地进行温度选择器性能检测。并且采用自动判档功能后，避免了用户超过给定检测时间未将温度选择器置于设备提示档位、设备会做出温度控制盒检测不合格的误判。采用LM231组成V/F变换电路具有很高的转换精度及很好的线性关系，可以很好地替代常规采用A/D芯片对电压信号进行变换采集的方法。