简介： 本实用新型涉及性能测试技术领域，提供一种测试装置包括：壳体，具有测试空腔；安置部，设置于测试空腔中，且安置部具有用于安置待测试可发光器件的安置位；性能检测器，设置于测试空腔中，以用于检测待测试可发光器件的性能；第一温度传感器，设置于测试空腔中，以用于检测待测试可发光器件处的温度；以及降温器，设置于测试空腔中或者与测试空腔连通，以用于在第一温度传感器所检测的温度高于预设值时对测试空腔进行降温。本实用新型提供的测试装置，可在温度高于预设值时对测试空腔进行降温，避免待测试可发光器件产生的热量积聚于测试空腔中，从而提高对待测试可发光器件性能测试的准确性。