简介： 本发明涉及一种存储单元的检测方法和检测电路。存储单元的检测方法包括如下步骤：在封装存储块之前，将存储块边缘单元的字线的一端以及位线的一端分别通过第一放大器和第二放大器，与内建自测逻辑电路的输入端连接；对与内建自测逻辑电路连接的字线和位线施加测量电压或测量电流；通过内建自测逻辑电路的输出端输出边缘单元的测量结果。将位于存储块边缘单元的字线的一端以及位线的一端分别通过第一放大器和第二放大器与内建自测逻辑电路的输入端连接，再施加测量电压或测量电流，通过内建自测逻辑电路的输出端输出测量结果，能够在不影响存储单元的情况下对存储块进行性能检测，方法便捷，不影响产品良率和产品成本。