简介： 本发明的实施例公开一种检测电子设备卡顿的方法、装置及电子设备，涉及电子设备性能检测技术，无需用户退出正在使用的软件，再进行卡顿的检测。所述检测电子设备卡顿的方法包括：在监测到应用程序启动时，调用预先安装在所述应用程序的界面中的清理应用程序检测并得到电子设备运行参数；查询预先存储的电子设备参数与电子设备优化策略的映射关系集，获取所述电子设备运行参数映射的电子设备优化策略；按照所述电子设备运行参数映射的电子设备优化策略对所述电子设备进行优化。本发明适用于对电子设备运行进行优化。