简介： 本发明涉及玻璃性能检测领域，公开了一种玻璃析晶温度的测试方法，该方法包括：S1.将玻璃颗粒进行热处理；S2.将经热处理后的玻璃颗粒进行表面蚀刻处理；S3.利用偏光显微镜测试玻璃的析晶温度。本发明提供的玻璃析晶温度的测试方法，可消除纸样过程中带入杂质对析晶温度测试的影响，同时通过对析晶的表面进行蚀刻处理，更清晰明显地观测析晶形貌，避免析晶太小而产生漏判，极大地提高了析晶温度的测试结果的可信性。