简介： 本发明公开了电路性能自动测试系统，所述系统包括：固定单元，用于对待测试电路板进行固定；外观检测单元，用于对待测试电路板进行外观检测；尺寸检测单元，用于对待测试电路板进行尺寸检测；电路检测，用于对待测试电路板进行电路性能检测；解决了现有的电路性能测试效率较低和成本较高的技术问题，实现了测试系统设计合理，电路性能测试效率较高成本较低的技术效果。