简介： 本发明提供一种纳米晶材料检测设备，包括检测平台和厚度检测装置，所述厚度检测装置包括：支架，所述支架设置在所述检测平台的一侧；位移传感器，所述位移传感器设置在所述纳米晶材料的上方，用于检测所述检测平台承载纳米晶材料与未承载纳米晶材料之间的高度差，并基于所述高度差确定所承载的纳米晶材料的厚度；升降装置，所述升降装置设置在所述支架上且连接所述位移传感器，用于带动所述位移传感器进行升降运动。根据本发明的纳米晶材料检测设备，能够自动化且快速地进行纳米晶材料的转移并对纳米晶材料进行厚度检测、二维尺寸检测及电性能检测。