简介： 本发明公开了一种基于机器视觉的SMD晶体器件检测系统，属于机器视觉检测技术领域。本发明的基于机器视觉的SMD晶体器件检测系统，其特征在于：包括ARM控制器(1)、图像显示卡(2)、显示模块(3)、光源模块(4)、工控机(5)、报警模块(6)、系统复位模块(7)、震动送料机构(8)、器件性能检测机构(9)、方向调整机构(10)、CCD工业相机(11)、光源模块(12)、缺陷产品分拣机构(13)、运送传输机构(14)。本发明与现有技术相比：具有系统结构简单、安装与调试方便、系统可靠性高、测量精度高、功耗低、易于普及推广、维修方便等优点。