简介： 本实用新型提供用于电子芯片性能检测用测试座，涉及测试座装置技术领域，包括底座和测试板，所述测试板的底面设有转换板，且转换板与测试板的底面螺栓连接，且转换板与测试板电性连接，所述转换板的底面设有探针板，且探针板与转换板的底面螺栓连接，且探针板与转换板电性连接，所述测试板的底面固定有卡合块。采用转换板的设计，在测试板的底面设有可拆卸的转换板，转换板的底面设有测试用的探针板，且转换板分别与测试板、探针板电性连接，这种设计使测试座可以测试不同规格的电子芯片，只需要简单更换不同规格的转换板和探针板，减少了测试成本。