简介： 本实用新型公开了一种半导体在不同温度下性能检测设备，包括：检测箱，所述检测箱前后端分别通过铰链转动安装有密封门，所述检测箱内腔表面安装有若干个加热管，所述检测箱内腔上端安装有两个温度监测模块，所述检测箱内腔安装有两个可升降移动的升降架。本实用新型中，通过隔热板，可以使其检测箱内形成两个腔室，每个腔体通过不同的加热管可以形成不同温度，从而能够使得半导体在一次检测后，可以直接进入预设好温度的第二个腔室内进行二次检测，提高了检测的效率，并且通过可密封的隔热板，可以防止两个腔室内的温度相互影响，通过C型槽可以套接插入半导体的两端，将其架起悬空，使得半导体每个面都能接触到温度。