一种电源芯片性能检测装置
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一种电源芯片性能检测装置
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简介: 本实用新型公开了一种电源芯片性能检测装置,包括箱体,所述箱体的上盖内壁上设有各检测单元工作电压和检测参数指标对照表,所述箱体的下盖内设有检测电路板,所述检测电路板上设有若干个不同型号的芯片安置座,所述箱体的下盖一侧设有电源转接插座,所述电源转接插座的输出端通过电源线与所述箱体的下盖内设置的检测电路板电连接,所述电源转接插座上插装有外接电源连接线。本实用新型结构简单,制造成本低,检测时安全可靠、检测效率及完整性都可达到预期的要求。
本实用新型公开了一种电源芯片性能检测装置,包括箱体,所述箱体的上盖内壁上设有各检测单元工作电压和检测参数指标对照表,所述箱体的下盖内设有检测电路板,所述检测电路板上设有若干个不同型号的芯片安置座,所述箱体的下盖一侧设有电源转接插座,所述电源转接插座的输出端通过电源线与所述箱体的下盖内设置的检测电路板电连接,所述电源转接插座上插装有外接电源连接线。本实用新型结构简单,制造成本低,检测时安全可靠、检测效率及完整性都可达到预期的要求。
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标签:物理检测
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