简介： 本发明公开了一种微波暗室场地性能检测用调节支架及检测系统，包括水平支架，水平支架上设置有水平轨道，水平轨道上安装有可沿其水平移动的水平托盘；水平托盘上安装有一维方位转台，一维方位转台上设置有竖直支架；竖直支架上安装有升降机构，升降机构包括升降带，升降带上安装有用于安装微波信号接收装置的安装台；本发明通过水平托盘可带动微波信号接收装置在同一水平面上横向移动，通过一维方位转台可实现微波信号接收装置的方位旋转，通过升降机构可以实现微波信号接收装置高度的调节，进而可以实现微波信号接收装置在微波暗室空间内不同位置处接收微波信号，提升微波暗室的检测效率。