简介： 本发明公开了一种处理器内部通用接口性能检测与分析方法、系统及介质，本发明方法包括数据提取、数据预处理、性能计算等步骤，通过在硅前验证阶段监测处理器内部接口的数据报文，计算得到系统中各接口性能和数据流在各相邻接口之间的延时等性能数据，继而分析得到系统的整体性能和定位系统性能瓶颈，为设计师进行代码优化提供依据和方向。本发明可在RTL阶段就进行性能分析，不止性能分析时间左移，在硅前进行性能优化，还可以精准定位性能瓶颈，降低性能优化难度，最重要的是可以在流片前对芯片具体性能情况有比较精准的把握。同时本发明具有广泛地适用性，既可以用于软模拟仿真平台，也可以用于硬件仿真加速器平台和FPGA平台。