简介： 本发明一种新型晶体性能检测电路，由待测晶体（X）、第一三极管（VT1）、第二三极管（VT2）、第一二极管（VD1）、第二二极管（VD2）、灯泡（D）、第一电容（C1）、第二电容（C2）、第三电容（C3）、第四电容（C4）组成；其中第一电容（C1）与第二电容（C2）串联然后与待测晶体（X）并联；第一三极管（VT1）的基极与待测晶体（X）连接，其集电极与电源正极连接；第二三极管（VT2）的发射极与电源地连接，其集电极与灯泡（D）连接。该检测电路是由两只晶体管构成的晶体性能测试电路，可以检测晶体能否振荡。