简介： 本发明公开一种半导体照明产品散热性能检测装置,包括:物理特性参数输入模块,采集导体照明产品的物理特性参数;快速辐射功率测试仪,采集半导体照明产品辐射量数据;电参数发生及测量仪,输入功率至半导体照明产品,测量其输出电信号;温度探测器,探测半导体照明产品内、外测试点温度信号;变环境测试积分球,设定半导体照明产品环境参数;中央监控及处理计算机,接收上述参数后运算处理;参数分析及等效变换模块,将半导体照明产品光电特性及物理特性归一化变换,推算等效标准模型状态下工作参数,中央监控及处理计算机根据工作参数输出测试数据,曲线及综合分析报告。本发明测试结果能够基本复原使用环境,减小测试环境差异而造成的误差。