简介： 本发明公开了一种光栅尺性能检测方法和系统，其中光栅尺性能检测方法包含以下步骤：运行数控程序控制机床的各运动轴运动，使用信号采集模块采集机床运动过程中的指令速度、指令位置，并使用待测光栅尺获取机床运动的实际位置；获取机床运动过程中的跟随误差；根据指令速度，形成有效指令位置和有效跟随误差；将有效指令位置等间隔化；将有效跟随误差以线性内插的插值方法，得到等位置间隔的跟随误差数据序列；经过带通滤波器，得到滤波后的跟随误差数据序列；获取滤波后的跟随误差数据序列的特征值，根据特征值评价待测光栅尺的性能。本发明采用低成本的技术方案，实现对光栅尺的性能进行高精度的检测。