简介： 本发明提出一种爱泼斯坦方圈磁性能检测装置和方法，包括绝缘底板和爱泼斯坦方圈，爱泼斯坦方圈为四个绕组骨架在绝缘底板上形成的方框结构，绕组骨架中嵌设H线圈，外部绕设内外两层线圈，初级磁化线圈N₁和次级感应线圈N₂，可以使用爱泼斯坦方圈进行电流法和/或H线圈法进行磁性能检测，本发明提高检测精度，检测方法多样。