简介:
本发明公开了一种触控电极的电学性能检测装置和检测方法,其中,该电学性能检测装置包括:电容形成单元和电容检测单元,其中该电容形成单元用于与触控电极形成电容结构,电容检测单元用于获取电容结构的电容值。本发明的技术方案通过电容形成单元来与待检测的触控电极之间形成电容结构,然后利用电容检测单元获取电容结构的电容值,此时检测人员基于获取到的电容结构的电容值可对触控电极的电学性能进行有效且准确的评估。
本发明公开了一种触控电极的电学性能检测装置和检测方法,其中,该电学性能检测装置包括:电容形成单元和电容检测单元,其中该电容形成单元用于与触控电极形成电容结构,电容检测单元用于获取电容结构的电容值。本发明的技术方案通过电容形成单元来与待检测的触控电极之间形成电容结构,然后利用电容检测单元获取电容结构的电容值,此时检测人员基于获取到的电容结构的电容值可对触控电极的电学性能进行有效且准确的评估。