简介： 本申请公开了一种适用于霍尔芯片的性能检测装置，包括两个用于检测霍尔芯片的电磁铁、切换开关、可调夹持装置；切换开关与所述电磁铁电性连接，用于控制所述电磁铁的通断或/和磁场方向，可调夹持装置用于夹持固定霍尔芯片并可根据所述霍尔芯片的厚度尺寸进行调节。本申请的有益之处在于提供一种可根据霍尔芯片的厚度尺寸进行调节固定的适用于霍尔芯片的性能检测装置。