简介： 本申请公开了一种存储阵列的性能检测方法，包括：获取目标存储阵列的阵列数据和用户输入的测试参数；利用所述阵列数据和所述测试参数确定所述目标存储阵列的基础性能；通过预设参数对所述基础性能进行调整得到所述目标存储阵列的实际性能；其中，所述预设参数包括读写比例、缓存命中率、产品型号中的任一项或任几项的组合。本申请能够提高检测存储阵列性能的准确率。本申请还公开了一种存储阵列的性能检测系统、一种存储介质及一种电子设备，具有以上有益效果。