简介:
本发明提供了一种熔断器性能检测装置与方法,涉及熔断器领域。该熔断器性能检测装置包括采样电阻、示波器、可编程电子负载以及电容器,采样电阻、可编程电子负载依次串联,示波器与采样电阻并联,电容器与可编程电子负载并联。该熔断器性能检测装置实现了即使在单脉冲持续时间小于5ms时,也可以进行精确脉冲试验,适合进行方波脉冲试验,另外,操作人员或装置可以依据示波器的波形调整电容值,以避免因电容放电效应而产生样品意外损伤,从而产品性能分析十分精确。
本发明提供了一种熔断器性能检测装置与方法,涉及熔断器领域。该熔断器性能检测装置包括采样电阻、示波器、可编程电子负载以及电容器,采样电阻、可编程电子负载依次串联,示波器与采样电阻并联,电容器与可编程电子负载并联。该熔断器性能检测装置实现了即使在单脉冲持续时间小于5ms时,也可以进行精确脉冲试验,适合进行方波脉冲试验,另外,操作人员或装置可以依据示波器的波形调整电容值,以避免因电容放电效应而产生样品意外损伤,从而产品性能分析十分精确。