简介： 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种锂电池保护电路的测试方法和系统。本发明中，通过确保探针与熔丝的接触良好，保证VBG测试电压和VDET测试电压准确，避免因电压测量不准导致的熔丝烧断错误，使得在CP测试时根据VBG和VDET测试电压，进行熔丝修复，剔除无法修复的坏品，节省封装和测试成本，从而提高FT的良率。