简介： 本发明提供了一种判别铌酸锂晶体X轴正负向的方法，步骤如下：（1）首先利用压电法标定出待测铌酸锂晶体Z轴的正负，然后对Z面进行粗略抛光；（2）将待测铌酸锂晶体置于锥光干涉光路中，待测铌酸锂晶体的X轴和Y轴分别沿水平和竖直方向，使激光沿晶体Z轴正向或负向入射；（3）在晶体X轴方向施加直流电压，沿着光的传播方向观察光屏上的锥光干涉图样，根据椭圆干涉环长轴所在象限判断X轴正负向。本发明基于晶体的电光效应，利用加电后的锥光干涉图样对铌酸锂晶体X轴正负向进行检测，测试过程不会损伤晶体，可以在器件制备完成后进一步应用前再进行检测，无需在加工过程中做标记，有利于提高加工效率。