简介:
本发明提供了一种评价层状结构锂钴氧化物电化学性能的方法,该方法包括:(A)采用X射线粉末衍射法测定层状结构锂钴氧化物晶体参数值;(B)设定层状结构锂钴氧化物晶体参数值范围;及(C)判断层状结构锂钴氧化物晶体参数值是否均在设定的参数值范围内;当上述测定的层状结构锂钴氧化物晶体参数值均在相应的设定的参数值范围内时,判定该层状结构锂钴氧化物的电化学性能满足电池需要。采用本发明提供的方法,简化了评价层状结构锂钴氧化物的电化学性能的操作步骤,并缩短了检验时间。
本发明提供了一种评价层状结构
锂钴氧化物
电化学性能的方法,该方法包括:(A)采用X射线粉末衍射法测定层状结构锂钴氧化物晶体参数值;(B)设定层状结构锂钴氧化物晶体参数值范围;及(C)判断层状结构锂钴氧化物晶体参数值是否均在设定的参数值范围内;当上述测定的层状结构锂钴氧化物晶体参数值均在相应的设定的参数值范围内时,判定该层状结构锂钴氧化物的电化学性能满足电池需要。采用本发明提供的方法,简化了评价层状结构锂钴氧化物的电化学性能的操作步骤,并缩短了检验时间。