简介： 一种判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态的方法,采用X射线光电子能谱仪进行分析,激发源为单色的Al的X射线,分析直径为φ800μm,不用电子中和枪对元素结合能进行荷电效应校正,得到钴和锂钴氧化物表面的金属元素特征峰的半峰高宽FWHM,根据得到半峰高宽FWHM判断金属氧化物在锂钴氧化物表面分散与聚集状态。本发明采用统计分析,可以快速、准确地判断金属氧化物在锂钴氧化物表面的分散与聚集状态。