简介:
本发明涉及一种使用光纤,优选地为涂覆金属的光纤,测量冶金容器中的温度的浸没装置。根据本发明的浸没装置包括进给通道和进给构件,用于进给光纤至一次性导管以及进给一次性导管连同光纤至熔体。浸没装置包括用于监测光纤一端相对于导管一端的位置的控制构件。已发现所述相对位置决定了温度测量的质量。因此,监测所述相对位置使得确定温度测量的质量、并因此改进温度测量变得有可能。
本发明涉及一种使用光纤,优选地为涂覆金属的光纤,测量冶金容器中的温度的浸没装置。根据本发明的浸没装置包括进给通道和进给构件,用于进给光纤至一次性导管以及进给一次性导管连同光纤至熔体。浸没装置包括用于监测光纤一端相对于导管一端的位置的控制构件。已发现所述相对位置决定了温度测量的质量。因此,监测所述相对位置使得确定温度测量的质量、并因此改进温度测量变得有可能。