简介： 本发明公开了一种测定碳化硅中二氧化硅的方法,属于冶金化工领域。该方法控制一定温度,使氢氟酸只溶解碳化硅中二氧化硅,利用电感耦合等离子体发射光谱仪的耐氢氟酸系统对碳化硅中二氧化硅含量进行测定。利用本发明可以准确的测量出碳化硅中二氧化硅的含量,其测定范围可以达到0.005%～20%。