简介： 本发明提供一种地质剖面真厚度直接测量装置及测量方法，一种地质剖面真厚度直接测量装置，包括有刻度的测量杆，测量杆上部通过固定装置安装有测量系统及GPS定位系统，测量系统包括用于测量地层倾角的仪器以及用于精准定位的激光笔；测量地层倾角的仪器、激光笔分别平行装配在测量杆两侧左侧，中心高度保持一致。本发明既能直接测量地层真厚度，既能适应各种地形环境下简单方便地进行剖面测量、剖面平移、地形和样点记录，又能避免测量参数多、测量不准确、计算繁琐等问题，从而达到提高野外地质工作效率和质量，减少人员工作量的目的。