简介： 本发明公开了一种地质样品微结构的电子显微三维重构表征方法，涉及地质行业检测技术领域，包括以下步骤：a1、首先制备电子束可穿透厚度的样品；a2、将制备的样品放入透射电镜中，并在不同倾转角度下拍摄一系列透射电镜二维图像；a3、在获得一系列透射电镜二维图像后，通过计算机软件将系列二维图像重构出三维图像。本发明公开的地质样品微结构的电子显微三维重构表征方法能够在已有的透射电镜中实现，且分辨率可达纳米至原子尺度，进而使得该方法具有空间分辨率高、实施成本低、可操作性和重复性强以及技术可靠性高等特点，从而解决了现有地质样品三维重构技术的测试成本昂贵、制样过程复杂，且测试过程会消耗样品本身的问题。