简介： 本发明公开使用组合的X射线计算机断层扫描(CT)/X射线荧光(XRF)系统对样本(104)进行相关性评估，还公开一种使用X射线CT和XRF分析样本(104)的方法。CT/XRF系统(10)包括用于获取体积信息的X射线CT子系统(100)和用于获取元素组成信息的XRF子系统(102)。几何校准被执行于XRF子系统(102)和X射线CT子系统(100)之间，从而X射线CT获取期间定义的感兴趣区域能被XRF子系统(102)恢复，以便随后的XRF的获取。系统(10)结合了X射线CT的亚微米空间分辨率三维成像能力和共焦XRF的元素组成分析，以提供样本(104)ppm级灵敏度的三维元素组成分析。这适用于许多科研和工业应用，其典型例子就是采矿工业中破碎及研磨原矿和浮选尾矿中的贵金属颗粒元素识别。