简介:
本发明提供一种确定下套管的钻孔周围地质层孔隙率的方法和装置。该方法包括产生中子脉冲,该脉冲将中子从中子源处释放进入与井邻接的区域。利用至少两个中子源到中子探测器的间距检测中子并获得许多中子探测器计数率。在其中一个间距处获得定时测量来测量结果探察的第一深度。获得中子探测器计数率的比值来测量探察的第二深度。利用定时测量和中子计数率的比值计算表观孔隙率。相应于中子探测器计数率的比值和定时测量结果确定钻井套管对所算出的表现孔隙率的影响。在中子计数率与定时测量比值的基础上计算水泥圈层。通过根据套管和水泥圈层校正表观孔隙率来计算地层孔隙率。
本发明提供一种确定下套管的钻孔周围地质层孔隙率的方法和装置。该方法包括产生中子脉冲,该脉冲将中子从中子源处释放进入与井邻接的区域。利用至少两个中子源到中子探测器的间距检测中子并获得许多中子探测器计数率。在其中一个间距处获得定时测量来测量结果探察的第一深度。获得中子探测器计数率的比值来测量探察的第二深度。利用定时测量和中子计数率的比值计算表观孔隙率。相应于中子探测器计数率的比值和定时测量结果确定钻井套管对所算出的表现孔隙率的影响。在中子计数率与定时测量比值的基础上计算水泥圈层。通过根据套管和水泥圈层校正表观孔隙率来计算地层孔隙率。