简介： 本发明属于地质样品分析技术领域，公开了一种基于能量色散X射线荧光光谱法测定矿石中的金的方法，光谱仪采用三维几何结构光路，使用Sc/W靶材；配置15个二次靶；样品粉碎至74μm(200目)，在烘箱中烘干，称取样品放于特制模具中，用聚乙烯粉末镶边垫底，加压，制成试样，放入干燥器中待测；采用样品为金矿石标准物质中，梯度适当的校准样品系列制成金元素含量的曲线。本发明采用实验样品为金矿石标准物质中，选择国家一级金矿石标准物质与部分含金的标准物质制成金元素含量的曲线，谱线重叠和基体效应校正，金的校准曲线及其线性，方法的检出限，方法的精密度，方法的准确度。