简介： 本发明提供了一种储层X射线成像方法及装置、样品制备方法及装置，涉及地质勘探技术领域，该储层X射线成像方法包括：获取第一尺寸样品的第一成像数据；第一尺寸样品的第一表面设有第一标志物，第一尺寸样品的第二表面设有多个第二标志物；第二标志物的形状各不相同；利用第一成像数据、第一标志物和多个第二标志物确定第二尺寸样品的位置数据；获取第二尺寸样品的第二成像数据；第二尺寸样品根据第二尺寸样品的位置数据从第一尺寸样品中得到；第二成像数据的精度高于第一成像数据；将第一成像数据和第二成像数据作为储层X射线成像结果。本发明实施例可以实现不同分辨率下X射线扫描样品位置的准确对应，提高岩石结构的表征精度与代表性。