简介:
本发明公开了一种地表几何粗糙度测量装置,其包括:上下两个弧形断面支撑尺、一组固定于弧形断面支撑尺上的导向槽座、一组探针、固定两个弧形断面支撑尺的两个侧边支撑杆、连接两个侧边支撑杆的横杆、位于横杆上的水平泡、多组不同尺寸的接触靴、固定于侧边支撑杆上的背景黑布。该装置机械结构简单、轻巧便携、成本低、测量精度高,可以用于农业、土壤学、地质、微波遥感等应用领域中对地表几何粗糙度的测量。
本发明公开了一种地表几何粗糙度测量装置,其包括:上下两个弧形断面支撑尺、一组固定于弧形断面支撑尺上的导向槽座、一组探针、固定两个弧形断面支撑尺的两个侧边支撑杆、连接两个侧边支撑杆的横杆、位于横杆上的水平泡、多组不同尺寸的接触靴、固定于侧边支撑杆上的背景黑布。该装置机械结构简单、轻巧便携、成本低、测量精度高,可以用于农业、土壤学、地质、微波遥感等应用领域中对地表几何粗糙度的测量。