简介： 本发明涉及地质检测方法技术领域，具体地指一种浅层介质结构面松散程度评价方法。包括以下步骤：1)、沿检测或勘察的介质表面布置测点；2)、逐点激发采集每个测点处的直达波和反射波信号；3)、对信号进行数据处理，获得测点处的直达波速度和反射波速度；4)、按照如下公式计算该测点处介质结构面速度系数；其中：C_v——结构面速度系数；V_f——反射波速度；V_z——直达波速度；当结构面速度系数C_v小于a时，认为该测点处的介质为松散结构，当结构面速度系数C_v大于或等于a时，认为该测点处的介质为密实结构。本发明的评价方法对工程应用有直接指导意义，填补了已知介质结构面松散程度无损检测该领域的空白。