简介:
在掩模台(RST)上固定一个其上形成有至少一个针孔状图案的基准板(RFM),掩模台(RST)上固持地移动掩模(R)。因此,例如可以不用任何特殊类型的测量用掩模,通过把连结型波前测量仪(80)设置到衬底台(WST)上、利用照明系统(IOP)照射基准板并利用波前测量仪接收通过投影光学系统在针孔状图案处产生的球面波,来测量投影光学系统(PL)的波前象差。因此,可以以理想的计时很容易地测量投影光学系统的波前象差,这使得能够对投影光学系统进行充分地质量控制。因此,可以利用进行了充分地质量控制的投影光学系统把掩模图案精确地转印到衬底上。
在掩模台(RST)上固定一个其上形成有至少一个针孔状图案的基准板(RFM),掩模台(RST)上固持地移动掩模(R)。因此,例如可以不用任何特殊类型的测量用掩模,通过把连结型波前测量仪(80)设置到衬底台(WST)上、利用照明系统(IOP)照射基准板并利用波前测量仪接收通过投影光学系统在针孔状图案处产生的球面波,来测量投影光学系统(PL)的波前象差。因此,可以以理想的计时很容易地测量投影光学系统的波前象差,这使得能够对投影光学系统进行充分地质量控制。因此,可以利用进行了充分地质量控制的投影光学系统把掩模图案精确地转印到衬底上。