简介： 本发明属于金属元素的精确定量分析技术领域，公开了一种金属元素的精确定量分析方法，包括：采集地质样品并将采集的地质样品制成测试样品，对X射线发射装置进行校正；利用校正后的X射线发射装置照射所述测试样品，并采集样品荧光图像；同时对采集的样品荧光图像进行处理与分析，确定金属杂质的含量；利用其他检测设备对制备的测试样品进行分析测试；基于确定的金属杂质的含量、分析测试结果以及荧光图像进行金属元素的精确定量分析。本发明通过对金属杂质含量进行测定方法可以大大提高测定金属杂质含量准确性；同时，本发明能够全面的对地质样品的金属元素进行分析，提高了分析结果的准确性，且分析成本低，分析效率高。