简介： 本实用新型涉及一种手持式X射线荧光分析仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、滤光片准直器控制系统、摄像头、GPS定位模块、ARM嵌入式系统，激发光源装置中设置有X射线发生器和高压发生器，信号探测装置中设置有探测器，X射线发生器前设置有滤光片准直器控制系统，信号探测装置与信号处理装置连接，信号探测装置位于X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上，信号处理装置上连接有ARM嵌入式系统，ARM嵌入式系统上配备卫星GPS定位模块，ARM嵌入式系统上连接有数码控制器。本实用新型对金属合金、ROHS有害元素、地矿样品、环境样品、金属镀层厚度等进行现场快速测定，无需进行专门制样，可以直接测量。