简介： 本发明公开的后置分光瞳激光差动共焦质谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像及质谱成像测量技术领域。本发明将后置分光瞳激光差动共焦显微成像技术与质谱探测技术结合，利用质谱探测系统对样品微区带电分子、原子等进行质谱探测，利用激光质谱探测和后置分光瞳差动共焦探测结构融合实现样品微区组分信息与形态参数的高空间分辨和高灵敏成像与探测。本发明可为生物医学、材料科学、矿产、微纳制造等领域形态成像及物质组分探测提供一条全新的有效技术途径。