简介： 本发明公开了一种基性岩中原位锆石的寻找方法，是将新鲜基性岩制成探针薄片后，结合偏光显微镜、偏光镜阴极发光仪、电子探针分析仪BSE成像及电子探针能谱仪进行分析，从而准确判断原位锆石的位置。本发明的方法可以解决在硅不饱和的基性岩(SiO₂＜52％)中难以寻找硅酸盐矿物锆石(ZrSiO₄)的问题，并可以观察基性岩原位锆石的形态特征及与其它矿物的空间关系特征，便于在此基础上进行实验分析。